CMA 检验检测能力项目库

317311 条记录,覆盖环境监测、食品检验、建材检测等领域 数据来源: 国家认监委

类型: GB — 找到 122039 条结果 清除筛选
领域 标准(方法)名称 标准编号 检测项目 产品 操作
产品质量检验 X-射线光电子能谱分析方法通则 GB/T19500-2004 表面元素分布 来源
产品质量检验 X-射线光电子能谱分析方法通则 GB/T19500-2004 表面元素分析 来源
产品质量检验 X-射线光电子能谱分析方法通则 GB/T19500-2004 表面元素的化学态 来源
产品质量检验 X-射线光电子能谱分析方法通则 GB/T19500-2004 表面化学分析 来源
产品质量检验 X射线光电子能谱分析方法通则 GB/T19500-2025 光电子能谱分析 来源
产品质量检验 X射线光电子能谱分析方法通则 GB/T19500-2025 微区成份 来源
产品质量检验 X射线光电子能谱分析方法通则 GB/T19500-2025 无机组分定性分析 来源
产品质量检验 X射线光电子能谱分析方法通则 GB/T19500-2025 无机组分定量分析 来源
产品质量检验 X射线光电子能谱分析方法通则 GB/T19500-2025 表面元素分布 来源
产品质量检验 X射线光电子能谱分析方法通则 GB/T19500-2025 表面元素分析 来源
产品质量检验 X射线光电子能谱分析方法通则 GB/T19500-2025 表面元素的化学态 来源
产品质量检验 X射线光电子能谱分析方法通则 GB/T19500-2025 表面化学分析 来源
产品质量检验 微束分析电子背散射衍射分析方法通则 GB/T19501-2013 显微织构分析 来源
产品质量检验 微束分析电子背散射衍射分析方法通则 GB/T19501-2013 晶体取向分析 来源
产品质量检验 微束分析电子背散射衍射分析方法通则 GB/T19501-2013 晶体取向测量 来源
产品质量检验 微束分析电子背散射衍射分析方法通则 GB/T19501-2013 晶体结构 来源
产品质量检验 微束分析电子背散射衍射分析方法通则 GB/T19501-2013 晶界特性分析 来源
产品质量检验 微束分析电子背散射衍射分析方法通则 GB/T19501-2013 物相结构分析 来源
产品质量检验 微束分析电子背散射衍射分析方法通则 GB/T19501-2013 物相识别分析 来源
产品质量检验 微束分析电子背散射衍射分析方法通则 GB/T19501-2013 相识别和晶粒尺寸 来源
产品质量检验 光源控制装置第1部分:一般要求和安全要求 GB/T19510.1-2023 双重绝缘或加强绝缘的内装式电子控制装置的附加要求 来源
产品质量检验 光源控制装置第1部分:一般要求和安全要求 GB/T19510.1-2023 双重绝缘或加强绝缘的内装式电感镇流器的附加要求 来源
产品质量检验 光源控制装置第1部分:一般要求和安全要求 GB/T19510.1-2023 对提供SELV的控制装置的特殊附加要求 来源
产品质量检验 光源控制装置第1部分:一般要求和安全要求 GB/T19510.1-2023 带热保护器的光源电子控制装置的特殊要求 来源
产品质量检验 光源控制装置第1部分:一般要求和安全要求 GB/T19510.1-2023 接地 来源
产品质量检验 光源控制装置第1部分:一般要求和安全要求 GB/T19510.1-2023 接线端子 来源
产品质量检验 光源控制装置第1部分:一般要求和安全要求 GB/T19510.1-2023 故障状态 来源
产品质量检验 光源控制装置第1部分:一般要求和安全要求 GB/T19510.1-2023 无负载输出电压 来源
产品质量检验 光源控制装置第1部分:一般要求和安全要求 GB/T19510.1-2023 标志 来源
产品质量检验 光源控制装置第1部分:一般要求和安全要求 GB/T19510.1-2023 热保护式控制装置的特殊要求 来源