共 317311 条记录，覆盖环境监测、食品检验、建材检测等领域 数据来源: 国家认监委
| 领域 | 标准(方法)名称 | 标准编号 | 检测项目 | 产品 | 操作 |
|---|---|---|---|---|---|
| 产品质量检验 | 压力机用光电保护装置技术条件 |
GB/T4584-2007
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耐压试验 | 来源 | |
| 产品质量检验 | 压力机用光电保护装置技术条件 |
GB/T4584-2007
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自保功能 | 来源 | |
| 产品质量检验 | 压力机用光电保护装置技术条件 |
GB/T4584-2007
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自检功能 | 来源 | |
| 产品质量检验 | 压力机用光电保护装置技术条件 |
GB/T4584-2007
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辐射强度 | 来源 | |
| 产品质量检验 | 压力机用光电保护装置技术条件 |
GB/T4584-2007
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输出信号过流保护 | 来源 | |
| 产品质量检验 | 压力机用光电保护装置技术条件 |
GB/T4584-2007
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适应环境检验 | 来源 | |
| 产品质量检验 | 压力机用光电保护装置技术条件 |
GB/T4584-2007
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适应贮存能力检验 | 来源 | |
| 产品质量检验 | 压力机用光电保护装置技术条件 |
GB/T4584-2007
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采用PELV做防护 | 来源 | |
| 产品质量检验 | 压力机用光电保护装置技术条件 |
GB/T4584-2007
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零部件工作性能 | 来源 | |
| 产品质量检验 | 交流系统用高压瓷和玻璃绝缘子的人工污秽试验 |
GB/T4585-2024
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交流人工污秽耐受试验 | 来源 | |
| 产品质量检验 | 交流系统用高压瓷和玻璃绝缘子的人工污秽试验 |
GB/T4585-2024
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固体层 | 来源 | |
| 产品质量检验 | 交流系统用高压瓷和玻璃绝缘子的人工污秽试验 |
GB/T4585-2024
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固体层法耐受试验和接收准则 | 来源 | |
| 产品质量检验 | 交流系统用高压绝缘子人工污秽试验方法 |
GB/T4585.2-1991
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人工污秽 | ||
| 产品质量检验 | 交流系统用高压绝缘子人工污秽试验方法 |
GB/T4585.2-1991
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人工污秽耐受电压 | ||
| 产品质量检验 | 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管 |
GB/T4586-1994
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y参数(A、B和C型) | 来源 | |
| 产品质量检验 | 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管 |
GB/T4586-1994
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功率场效应晶体管沟道-管壳的瞬态热阻抗和热阻 | 来源 | |
| 产品质量检验 | 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管 |
GB/T4586-1994
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噪声(A、B和C型) | 来源 | |
| 产品质量检验 | 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管 |
GB/T4586-1994
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小信号短路反馈电容(A、B和C型) | 来源 | |
| 产品质量检验 | 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管 |
GB/T4586-1994
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小信号短路正向跨导(A、B和C型) | 来源 | |
| 产品质量检验 | 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管 |
GB/T4586-1994
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小信号短路输入电容(A、B和C型) | 来源 | |
| 产品质量检验 | 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管 |
GB/T4586-1994
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小信号短路输出电容(A、B和C型) | 来源 | |
| 产品质量检验 | 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管 |
GB/T4586-1994
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小信号短路输出电导(A、B和C型) | 来源 | |
| 产品质量检验 | 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管 |
GB/T4586-1994
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开关时间(A、B和C型) | 来源 | |
| 产品质量检验 | 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管 |
GB/T4586-1994
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散射参数 | 来源 | |
| 产品质量检验 | 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管 |
GB/T4586-1994
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栅-源截止电压(A和B型) | 来源 | |
| 产品质量检验 | 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管 |
GB/T4586-1994
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栅-源截止电压(A和B型)VGSoff | 来源 | |
| 产品质量检验 | 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管 |
GB/T4586-1994
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栅-源阈值电压(C型) | 来源 | |
| 产品质量检验 | 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管 |
GB/T4586-1994
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正向偏置安全工作区和反向偏置安全工作区 | 来源 | |
| 产品质量检验 | 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管 |
GB/T4586-1994
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漏极截止电流(A、B和C型) | 来源 | |
| 产品质量检验 | 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管 |
GB/T4586-1994
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漏极电流(A、B和C型) | 来源 |